Advanced Materials Solution Àº ÇöÀç ÀϺ» TOPCON ÞäÀÇ Wafer Surface Analyzer WM-Series(Wafer Defect Inspection) ÀÇ ±¹³»¿µ¾÷ ¹× ±â¼úÁö¿ø,½ºÀ§½º NANOWORLDÞä°¡ ÀÚü Á¦ÀÛÇÑ SPM¿ë Silicon Sensor(Probe/Tip) ¿Í Accessories ¹× Calibration Standards ÀÇ ±¹³» ¿µ¾÷ ¹× ±â¼ú Áö¿ø, µ¶ÀÏ ATOMICFORCEÞäÀÇ SFM(Scanning Force Microscope) Image Quality Increase ToolÀÎ Q-Control System ±¹³» ¿µ¾÷¹×  ±â¼ú Áö¿ø, ÇÁ¶û½º LovaLiteÞäÀÇ NSOM(SNOM)¿ë Probes(Tip) ¹× ´Ù¾çÇÑ
Á¾·ùÀÇ Photonics Application Tip
ÀÇ ¿µ¾÷¹× ±â¼úÁö¿øÀ» ¸Ã°í ÀÖÀ¸¸ç, ¶ÇÇÑ ¹ÝµµÃ¼ Áß°í(Used) Metrology(Measurement & Analysis) SystemÀÇ  Sourcing, De-install,Refurbish,Modify,Up-grade,Set-up µîÀÇ  ±â¼ú Áö¿øÀ» Çϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.

 korea02.gif  È¸ »ç ¸í : A M S (Advanced  Materials Solution)

 korea02.gif  ȸ»ç ¼³¸³ÀÏ : 2002³â 03¿ù 02ÀÏ

 korea02.gif   ȸ»ç ÀÚº»±Ý : 150,000,000¿ø

 korea02.gif   A M S((Advanced  Materials Solution) BACKGROUND

         purple02_next.gif  ¹ÝµµÃ¼ ºÐ¾ßÀÇ ÃàÀûµÈ °æÇè°ú ¿¬±¸È°µ¿
         purple02_next.gif  CUSTOMER ¿ä±¸¿¡ ½Å¼Ó ´ëÀÀ
         purple02_next.gif  ¹Ì·¡ ¹æÇâ ¹× ÁøÀϺ¸µÈ ÇØ°áÃ¥ Á¦½Ã
         purple02_next.gif  »óÈ£ WIN-WIN Àü·«¿¡ ±âÃÊÇÑ »ç¾÷ Àü°³
         purple02_next.gif  Ã·´Ü ±â¼ú µµÀÔÀ¸·Î ±¹°¡ ±â¹Ý ±â¼ú ¹ßÀü¿¡ À̹ÙÁö

 korea02.gif    È¸»ç ÁÖ¼Ò : °æ±âµµ ¼ö¿ø½Ã ¿µÅ뱸 ¿µÅ뵿 1022-4 ¸¸¿ùºôµù  4Ãþ
                Tel)031-203-2960     Fax)031-273-2439
                       Homepage : www.amsht.com
                       e-mail        : ams@amsht.com